ニュースリリース | ||||||
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2002年5月7日 | ||||||
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株式会社日立製作所(取締役社長:庄山悦彦)は、ハードディスク装置の大容量化、小型化に向けて、100ギガビット級の垂直磁気記録用ヘッドを開発しました。このヘッドの製作には、半導体製造プロセスでも用いられている電子線描画法をはじめて適用しました。その結果、再生トラック幅125nmを実現し、世界トップクラスの出力感度を達成しました。 本技術は、次世代の記録技術である垂直磁気記録方式の実用化を加速し、1平方インチ当たり100ギガビット級の面記録密度を持つハードディスク装置を実現する基本技術となります。 近年、様々なデジタル機器の普及により、日常生活の中で大容量の映像や音声をデジタル化して扱う機会が増えています。これに伴って、様々なデータを大量に保存し、読み出す機能を持つハードディスク装置に要求される記憶容量も、ますます拡大しています。現在市販されているハードディスク装置には、面内磁気記録と呼ばれる方式が採用されています。しかしこの方式では、磁気記録媒体の温度が不安定であることや記録用ヘッドの記録能力不足、再生感度不足等の課題があり、1平方インチ当たり100から200ギガビット程度の面記録密度が限界であると考えられています。 このような背景から当社では、これらの課題を解決すると考えられている、垂直磁気記録方式の開発を進めています。垂直磁気記録方式の面記録密度を高くするためには、記録ヘッドの寸法を微細化する必要があります。しかし、記録ヘッドの微細化が進むにつれて、次のような現象が発生しました。 本技術は、次世代の記録技術である垂直磁気記録方式の実用化を加速し、1平方インチ当たり100ギガビット級の面記録密度を持つハードディスク装置を実現する基本技術となります。本技術を用いることで、ハードディスク装置を大容量化できるだけではなく、各種装置の小型化にも寄与できます。そのため、PC、サーバー、RAIDシステムのみならず、携帯端末やデジタル家電への応用が期待されています。 なお、本技術は、4月29日からオランダ・アムステルダムで開催される国際会議「Intermag
Europe 2002」にて発表される予定です。 <脚注>
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以 上 |
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